觸控薄膜瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)主要特色： 適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等連續(xù)式(Roll to Roll)制程線(xiàn)上即時(shí)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 配備高解析度線(xiàn)型掃描相機(jī)，可檢出氣泡及刮傷等臟污及瑕疵 使用多支相機(jī)同時(shí)進(jìn)行取像，檢測(cè)速度快 配備位置控制和反饋系統(tǒng)，可得到**及清晰的掃描圖像 系統(tǒng)具備定位標(biāo)靶識(shí)別功能、地圖對(duì)應(yīng)功能*

Chroma*新一代7505-02觸控薄膜瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等連續(xù)式(Roll to Roll)制程線(xiàn)上即時(shí)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。主要運(yùn)用CCD 對(duì)電容式觸控面板表面進(jìn)行影像拍攝，為以PC-based架構(gòu)的線(xiàn)掃描(Line-scan)影像檢測(cè)系統(tǒng)，應(yīng)用視覺(jué)顯像檢測(cè)核心技術(shù)，高感光度線(xiàn)性?huà)呙?Line-scan)攝影機(jī)，低像差變形鏡頭(Lens)，高亮度燈源(Lighting)，高速影像擷取卡(Frame Grabber)等。透過(guò)即時(shí)的同步觸發(fā)取像并搭配高速的瑕疵檢出判斷技術(shù)，以及精準(zhǔn)的記憶體管控技術(shù)，達(dá)到高速不中斷的連續(xù)檢測(cè), 進(jìn)行2D 表面瑕疵分析。